一六 熒光測厚儀 十年以上研發(fā)團(tuán)隊 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體

元素分析范圍:氯(ci)- -(u)   厚度分析范圍:各種元素及有機(jī)物

一次可同時分析:23層鍍層,，24種元素 厚度檢出限:0.005um

一,、外部結(jié)構(gòu)原理圖

x熒光做鍍層分析時，根據(jù)射線是而下照射樣品,，還是至下而上照射樣品的方式,，將x熒光分析儀的外部整體結(jié)構(gòu)分為：上照射和下照射兩種結(jié)構(gòu)。

二,、各種外部結(jié)構(gòu)的特點

1,、上照射方式

   用于照射(激發(fā))的x射線是采用由上往下照射方式的設(shè)備稱為上照射儀器。此類設(shè)備的z軸為可移動方式,，用于確定射線照射光斑的焦點,，-測量的準(zhǔn)確性。

,、z軸的移動方式

   根據(jù)z軸的移動方式,，分為自動和手動兩類；

自動型的設(shè)備完全由程序與自動控制裝置實現(xiàn),，其光斑對焦的重現(xiàn)性與準(zhǔn)確度都-,，而且使用非常簡便一般是與圖像采集系統(tǒng)與控制系統(tǒng)相結(jié)合的方式，涂層測厚儀,，一般只需要用鼠標(biāo)在圖像上---一下即可定位,。此類設(shè)備對于測試形狀各異的樣品非常方便，也是目前主流的分析設(shè)備類型,。

,、x、y軸水平移動方式

水平移動方式一般分為：無x,、y軸移動裝置,；手動x、y軸移動裝置,；電動x,、y軸移動裝置；全程控自動x,、y軸移動裝置,。

這幾類的設(shè)備都是根據(jù)客戶實際需要而設(shè)計的，例如：使用無x,、y軸移動裝置的也很多,，結(jié)構(gòu)簡單，樣品水平移動完全靠手動移動,，這種設(shè)備適合于樣品面積較大,，定位比較容易的測試對象。  

一六儀器 測厚儀 多道脈沖分析采集,，-efp算法  x射線熒光鍍層測厚儀

應(yīng)用于電子元器件,，led和照明，家用電器,，通訊,，汽車電子領(lǐng)域.efp算法結(jié)合-定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題

常規(guī)鍍層厚度分析儀的原理

對材料表面保護(hù)、裝飾形成的覆蓋層,，如涂層、鍍層,、敷層,、貼層、化學(xué)生成膜等,，在有關(guān)和---中稱為覆層coating,。覆層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程檢測的重要一環(huán),，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等標(biāo)準(zhǔn)的---手段,。為使產(chǎn)品國際化，我國出口商品和涉外項目中,，對覆層厚度有了明確的要求,。

覆層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法,，電解法,，厚度差測量法,，稱重法，x射線熒光法,，β射線反向散射法,，電容法、磁性測量法及渦流測量法等,。