江蘇一六儀器超微電子元器件芯片---鍍層測厚儀

技術(shù)參數(shù)：

元素分析范圍：氯ci----u

厚度分析范圍：各種元素及有機物

---同時分析：23層鍍層，24種元素

厚度di檢出限：0.005um

xiao測量面積:0.002m㎡

膜厚儀一般來說和涂層測厚儀是一類產(chǎn)品,。

膜厚儀一般是測氧化膜層厚度，常見的鋁基,，膜厚儀品牌,，銅基氧化，測量時候用涂層測厚儀選擇n非磁性探頭,，這樣測鋁基等氧化層也稱為膜厚儀,。

涂層測厚儀正常情況下有兩種測量原理，配f合n探頭,，膜厚檢測儀,，或者fn一體探頭。氧化層一般是幾微米到十幾微米，但是普通的涂層測厚儀誤差比較大,，需要用---的涂層測厚儀測量氧化層,，比如中科樸道的pd-ct2涂層測厚儀就可以測量氧化層。

江蘇一六儀器珠寶,、首飾x熒光光譜測厚儀

儀器配置

微-x射線裝置

信號放大器

微型移動滑軌

十二元素片

如果膜厚測試儀已經(jīng)進行了適當(dāng)?shù)男��?zhǔn),，所有的測量值將保持在一定的誤差范圍內(nèi)；根據(jù)統(tǒng)計學(xué)的觀點,，一次讀數(shù)是不---的,。因此任何由膜厚測試儀顯示的測量值都是五次“看不見”的測量的平均值。這五次測量是在幾分之一秒的時間內(nèi)由探頭和儀器完成的,。

膜厚測試儀測量時間的選擇：測量時間越長穩(wěn)定度越好,，一般來說，單鍍層不小于15秒,，雙鍍層和合金比例測量時間不少于30秒鐘,，三鍍層測量時間不少于45秒，鍍液主離子濃度測量時間在30～60秒之間,。