江蘇一六儀器有限公司是一家---于光譜分析儀器研發(fā),、生產(chǎn),、銷售的-企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū),。我們-研發(fā)團(tuán)隊(duì)具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗(yàn),,鍍層測(cè)厚儀,經(jīng)與海內(nèi)外多名---通力合作,,研究開(kāi)發(fā)出一系列能量色散x熒光光譜儀
x射線熒光測(cè)厚儀操作注意事項(xiàng):
測(cè)厚儀操作時(shí)候需要注意的:
技術(shù)指標(biāo):
1 分析元素范圍:cl17-u92
2 同時(shí)可分析多達(dá)5層鍍層以上
3 分析厚度檢出限---0.01μm
4 多次測(cè)量重復(fù)性高可達(dá)0.01μm
5測(cè)量時(shí)間:5s-300s
6 計(jì)數(shù)率:0-8000cps
測(cè)厚儀操作流程
打開(kāi)儀器開(kāi)關(guān)----在電腦上開(kāi)啟軟件-------開(kāi)高壓鑰匙-------聯(lián)機(jī)------預(yù)熱-----峰位校正------新建程式------選擇相應(yīng)的程式-----測(cè)試樣品----出報(bào)告
一六 熒光測(cè)厚儀 十年以上研發(fā)團(tuán)隊(duì) 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體
元素分析范圍:氯(ci)- ---(u) 厚度分析范圍:各種元素及有機(jī)物
一次可同時(shí)分析:23層鍍層,,24種元素 厚度檢出限:0.005um
江蘇一六儀器 x熒光測(cè)厚儀測(cè)試要求:
工作要求:
1 環(huán)境溫度要求:15℃-30℃
2 環(huán)境相對(duì)濕度:<70%
3 工作電源:交流220±5v
4 周圍不能有強(qiáng)電磁干擾。
5 max功率 :330w
6 外形尺寸 :550 mm x 480mm x 470 mm 長(zhǎng)x寬x高
7 樣品倉(cāng)尺寸 :500mm×360 mm ×215mm 長(zhǎng)x寬x高
8 儀器重量 :55kg
9 分析軟件efp,,可同時(shí)分析23層鍍層,,24種元素,不同層有相同元素也可分析
10 軟件操作人性化封閉軟件,,自動(dòng)提示校正和步驟,,避免操作錯(cuò)誤
11 x射線裝置:w靶微---加強(qiáng)型射線管
江蘇一六儀器有限公司是一家---于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn),、銷售的-企業(yè),。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū),。我們-研發(fā)團(tuán)隊(duì)具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗(yàn),經(jīng)與海內(nèi)外多名---通力合作,,電鍍層測(cè)厚儀,,研究開(kāi)發(fā)出一系列能量色散x熒光光譜儀。
測(cè)厚范圍可測(cè)定厚度范圍:取決于用戶的具體應(yīng)用,。將列表可測(cè)定的厚度范圍-基本分析功能無(wú)標(biāo)樣檢量線測(cè)厚,,測(cè)厚儀,可采用一點(diǎn)或多點(diǎn)標(biāo)準(zhǔn)樣品自動(dòng)進(jìn)行基本參數(shù)方法校正,。根據(jù)客戶本身應(yīng)用提供---的校正用標(biāo)準(zhǔn)樣品,。樣品種類:鍍層、涂層,、薄膜,、液體(鍍液中的元素含量)可檢測(cè)元素范圍:ti22–u92可同時(shí)測(cè)定5層/15種元素/共存元素校正組成分析時(shí),可同時(shí)測(cè)定15種元素多達(dá)4個(gè)樣品的光譜同時(shí)顯示和比較元素光譜定性分析-調(diào)整和校正功能系統(tǒng)自動(dòng)調(diào)整和校正功能:校正x射線管,、探測(cè)器和電子線路的變化對(duì)分析結(jié)果的影響,,自動(dòng)消除系統(tǒng)漂移譜峰計(jì)數(shù)時(shí),峰漂移自動(dòng)校正功能譜峰死時(shí)間自動(dòng)校正功能譜峰脈沖堆積自動(dòng)剔除功能標(biāo)準(zhǔn)樣品和實(shí)測(cè)樣品間,,密度校正功能譜峰重疊剝離和峰形擬合計(jì)算-測(cè)量自動(dòng)化功能(要求xy程控機(jī)構(gòu))鼠標(biāo)控制測(cè)量模式:pointandshoot多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)量模式:隨機(jī)模式,、線性模式、梯度模式,、掃描模式,、和重復(fù)測(cè)量模式測(cè)量位置預(yù)覽功能激光對(duì)焦和自動(dòng)對(duì)焦功能-樣品臺(tái)程控功能(要求xy程控機(jī)構(gòu))設(shè)定測(cè)量點(diǎn)oneortwodatumn(reference)pointsoneachfile測(cè)量位置預(yù)覽
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