選擇直讀光譜儀實(shí)驗(yàn)室對環(huán)境的要求實(shí)驗(yàn)室外環(huán)境條件,，要求遠(yuǎn)離震源,。環(huán)境要好一些,，塵土要小,。實(shí)驗(yàn)室的環(huán)境溫度一般在15—25℃,，需要安裝大空調(diào)或者中央空調(diào)相對溫度不大于70％,，要遠(yuǎn)離化學(xué)腐蝕性氣體,。
溫度控制可采用柜式空調(diào)機(jī),，手持式光譜儀，根據(jù)試驗(yàn)室的面積,，選擇適當(dāng)容量的空調(diào)機(jī),，在南方潮濕地區(qū)還必需增加去濕措施。機(jī)房要求封閉,，防人塵埃侵入,。溫度變化較小。
亞氣的供給純度必須達(dá)到99．99％以上,。純度不夠,，容易造成激發(fā)點(diǎn)子不好。亞氣管道盡量靠直讀光譜儀近些,。如果純度不夠,，必須選購亞氣凈化裝置連接在氣路中。 次數(shù)用完api key 超過次數(shù)---
牛津儀器工業(yè)分析部oxford instruments industrial---ysis牛津儀器工業(yè)分析部提供多系列分析工具滿足各個行業(yè)嚴(yán)格的控制要求,。憑借30多年的xrf技術(shù)經(jīng)驗(yàn),，牛津儀器的分析系統(tǒng)可以實(shí)現(xiàn)各種材料固體,、液體、粉末,、糊狀物,、油脂、薄膜等中元素組成的快速,、無損檢測,，同時也可實(shí)現(xiàn)樣品表面涂鍍層厚度或組成分析。x-met手持式xrf分析儀和移動式直讀光譜儀oes是對現(xiàn)場合金分類及pmi測試,、rohs中有害元素的檢測,、控制尤為重要的工具。我們的oes設(shè)備包括：arc-met,、foundry-master,、foundry-master compact、pmi-master pro,、pmi-master sort,、testmaster。lab-x,、twin-x,、ed2000及mdx1000各種xrf光譜儀應(yīng)用于各種不同領(lǐng)域產(chǎn)品的日常分析，手持式光譜儀的作用,，如石油產(chǎn)品的硫含量的分析,、水泥中鈣含量的分析。我們能提供多款性能---的光譜儀供您選擇以滿足您的分析需求,。
直讀光譜儀可用于鑄造,、鍛造,、機(jī)械配件,、裝備制造、質(zhì)檢,、高校教學(xué)培訓(xùn)等領(lǐng)域,。
在直讀光譜儀分析過程中，采用高穩(wěn)定的激發(fā)光源,，激發(fā)頻率在150—500hz之間變化,，分析不同的樣品，可選擇不同的激發(fā)參數(shù),，可達(dá)到佳的分析---,。
直讀光譜儀中有關(guān)第三元素影響的問題
譜線干擾:由于試樣組分復(fù)雜，所選元素的分析線直接受試樣中其它組分發(fā)射譜線的影響,，這種影響又稱為光譜干擾,�,；w。簡單的說,，手持式光譜儀品牌,，樣品中除了少量存在的待測物之外，還有大量的其他物質(zhì),，手持式光譜儀維修,，這就是基體�,；w效應(yīng),。實(shí)驗(yàn)證明，當(dāng)被測元素的濃度一定時,，分析元素譜線的絕強(qiáng)度及相對強(qiáng)度值不僅決定于蒸發(fā),、激發(fā)等攝譜條件，而且與試樣總組成有關(guān),。試樣總組成對譜線強(qiáng)度的影響稱為第三元素的影響,。第三元素是指除了內(nèi)標(biāo)和分析元素以外而存在于試樣中的元素，這種影響有時稱為基體效應(yīng),。 次數(shù)用完api key 超過次數(shù)---
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