測(cè)量氣體成分的流程分析儀表。在很多生產(chǎn)過(guò)程中,,---是在存在化學(xué)反應(yīng)的生產(chǎn)過(guò)程中,,便攜式紅外氣體分析儀,,僅僅根據(jù)溫度、壓力,、流量等物理參數(shù)進(jìn)行自動(dòng)控制常常是不夠的,。例如,在合成氨生產(chǎn)中,,僅控制合成塔的溫度,、壓力、流量并不能---較高的合成率,,必須同時(shí)分析進(jìn)氣的化學(xué)成分,,控制氫氣和氮?dú)獾?--的比例,才能獲得較高的生產(chǎn)率。
紅外線氣體分析儀,,是利用紅外線進(jìn)行的氣體分析,。它基于待分析組分的濃度不同,吸收的輻射能不同.剩下的輻射能使得檢測(cè)器里的溫度升高不同,,動(dòng)片薄膜兩邊所受的壓力不同,,從而產(chǎn)生一個(gè)電容檢測(cè)器的電信號(hào)。這樣,,便攜式紅外氣體分析儀公司,,就可間接測(cè)量出待分析組分的濃度。
紅外線氣體分析儀是根據(jù)比爾定律制成的,。假定被測(cè)氣體為一個(gè)薄的平面.強(qiáng)度為k的紅外線垂直穿透它,,則能量衰減的量為:i=i0e-kcl(比爾定律)式中:i--被介質(zhì)吸收的輻射強(qiáng)度;i0--紅外線通過(guò)介質(zhì)前的輻射度;k--待分析組分對(duì)輻射波段的吸收系數(shù);c--待分析組分的氣體濃度;l--氣室長(zhǎng)度(赦測(cè)氣體層的厚度)對(duì)于一臺(tái)制造好了的紅外線氣體分析儀,其測(cè)量組分已定,,便攜式紅外氣體分析儀,,即待分析組分對(duì)輻射波段的吸收系數(shù)k一定;紅外光源已定,即紅外線通過(guò)介質(zhì)前的輻射強(qiáng)度i0一定;氣室長(zhǎng)度l一定,。從比爾定律可以看出:通過(guò)測(cè)量輻射能量的衰減i,,就可確定待分析組分的濃度c了。
紅外線氣體分析儀屬于不分光式紅外線氣體分析器,,其工作原理是基于某些氣體
|