壓敏電阻主要是用來保護(hù)那些易受靜電和高壓等破壞環(huán)境的一種電阻,，在一些集成化較高。

 應(yīng)用功能復(fù)雜的環(huán)境中應(yīng)用較多,，其中片式壓敏電阻體積小,，適應(yīng)于高度集成化的電子環(huán)境。

 片式壓敏電阻雖因其響應(yīng)速度快,、無極性,、成本低以及和smt工藝兼容等優(yōu)點(diǎn)而被推到了市場(chǎng)。

 在手機(jī)中的應(yīng)用中,，由于增加了多種新功能手機(jī)中的ic集成度也越來越高,。

 與此同時(shí),，半導(dǎo)體器件和ic的工作電壓越來越低，當(dāng)芯片變得越來越薄時(shí),，遭受過電壓和靜電放電危害的幾率大大增加了,。

 由于過電壓和靜電放電對(duì)集成電路和半導(dǎo)體器件會(huì)造成損壞，因而需要大量的壓敏電阻過電壓保護(hù)元件來對(duì)昂貴的半導(dǎo)體器件提供保護(hù),。

 熔保險(xiǎn)絲技術(shù),，華星壓敏電阻，該技術(shù)是將用蠟保護(hù)的低熔點(diǎn)金屬通過一定的工藝裝在壓敏電阻上,。

 在壓敏電阻漏電流過大,，溫度升高到一定程度時(shí)，低熔點(diǎn)金屬熔斷,，壓敏電阻,，從而將壓敏電阻從電路中切除，可以有效地防止壓敏電阻起火燃燒,。

 但熱熔保險(xiǎn)絲存在-性問題在熱循環(huán)的環(huán)境中,，熱熔保險(xiǎn)絲需定期更換以維持正常運(yùn)行。

 老化失效是指電阻體的低阻線性化逐步加劇,，漏電流惡性增加且集中流入薄弱點(diǎn),，薄弱點(diǎn)材料融化，形成1kω左右的短路孔后,。

 電源繼續(xù)推動(dòng)一個(gè)較大的電流灌入短路點(diǎn),，形成高熱而起火。

 這種事故通�,？梢酝ㄟ^一個(gè)與壓敏電阻串聯(lián)的熱熔接點(diǎn)來避免,。

 而暫態(tài)過電壓破壞是指較強(qiáng)的暫態(tài)過電壓使電阻體穿孔，導(dǎo)致的電流而高熱起火,。

 整個(gè)過程在較短時(shí)間內(nèi)發(fā)生,，以至電阻體上設(shè)置的熱熔接點(diǎn)來不及熔斷。