伴隨著pcba線路板及smd電子元件ic芯片愈來愈高精密,,產品品質規(guī)定愈來愈嚴苛,,檢驗速率規(guī)定變的越來越快,。2d的設備早已不可以達到如今的生產制造規(guī)定。
因為各種各樣緣故,商品生產過程中難以避免的會造成多種多樣缺點,,如pcb電路板上發(fā)生孔的移位,、短路、短路故障等難題,;液晶顯示屏表層帶有,、刮痕、顆粒物等難題,;半導體材料圓晶發(fā)生的沉余物,、晶體缺陷和機械設備損害等難題。這種缺點不但危害商品的特性,,比較---時乃至會傷害到人身安全,。殊不知在非常長的一段時間內,絕大多數電子器件生產商依然取決于傳統(tǒng)式人力看著查驗,。以現(xiàn)階段aoi全自動光學檢驗技術性占有率pcb領域為例子,,曾有科學研究組織做了-,當兩人查驗同樣的pcba板四次時,,她們的互相認同率低于28%,,---自身的僅有大概44%上下。顯而易見,,伴隨著電子元件的細微化,、復雜發(fā)展趨勢,及其生產制造領域總體對智能化系統(tǒng)轉型的要求,,
aoi全自動光學檢測儀器的基本概念是運用影像學來比看待測物與規(guī)范影象是不是經歷大的差別來分辨待測物有無符合規(guī)定,因此aoi的優(yōu)劣大部分也在于其對影象的分辨率,、顯像工作能力與影象分析技術性,。初期情況下aoi全自動光學檢測儀器大多數被用來檢驗ic(積體電路)封裝后的表層包裝印刷是不是有缺陷,伴隨著技術性的演變,,如今
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