深圳市鴻怡電子有限公司為您提供廠(chǎng)家開(kāi)模晶振3225-4pin晶振老化座3.2*2.5翻蓋探針頻率測(cè)試座,。3.2*2.5-4pin晶振探針老化座
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
a,、產(chǎn)品用途:老化座、測(cè)試座,，對(duì)32253.2*2.5的ic芯片進(jìn)行高低溫老化測(cè)試
b,、適用封裝: 3225(3.2*2.5)-4pin晶振探針老化座
c、采用雙觸點(diǎn)技術(shù),，接觸更穩(wěn)定,、體積小。
d,、采用特殊的工程塑膠,，強(qiáng)度高、-,、阻抗小,、彈性好
e、鍍金層加厚,，觸點(diǎn)加厚電鍍，-接觸阻抗,、高-度,，使用壽命翻蓋結(jié)構(gòu)20000次
f、我司可提供規(guī)格書(shū)布板圖資料,，pdf檔\cad
規(guī)格尺寸
a,、型號(hào): 32253.2*2.5-4pin
b、腳位:4
c,、芯片尺寸:3.2*2.5
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