3igbt飽和壓降/frd正向導通壓降測試電路 通態(tài)壓降測試電路?高壓充電電源:10~1500v連續(xù)可調(diào)?支撐電容:額定電壓2kv?飽和通態(tài)壓降電壓探頭精度要求:0.1~10v±3%±0.01v?柵極電壓輸出要求:5~25v±1%±0.01v ?集電極電流測試設備精度: 200~500a±3%±1a,;500~1000a±2%±2a?測試脈沖寬度:0.1~1ms可設定4柵極漏電流測試電路 柵極漏電流測試電路?可調(diào)電源:±1v~±40v±2%±0.1v,;?小電流測量設備精度:0.01~10μa±2%±0.005μa?柵極電壓vge:±1v~40v±1%±0.1v,;以下參數(shù)的測試可以在不同的電壓等級,、電流等級,、溫度、機械壓力,、回路寄生電感以及不同的驅動回路參數(shù)下進行,。?脈沖時間:40~100ms可設定
3.6vces集射極截止電壓0~5000v集電極電流ices:0.01~1ma±3%±0.001ma;1~10ma±2%±0.01ma,;10~50ma±1%±0.1ma,;集電極電壓vces:0-5000v±1.5%±2v;測試過程簡單,,既可以在測試主機里設置參數(shù)直接測試,,又可以通過軟件控制主機編程后進行自動測試。*3.7 ices集射極截止電流0.01~50ma集電極電壓vces:50~500v±2%±1v,;500~5000v±1.5%±2v,;集電極電流ices:0.001~1ma±3%±0.001ma;1~10ma±2%±0.01ma,;10~150ma±1%±0.1ma,;*3.8vce(sat)飽和導通壓降0.001~10v集電極電流ice:0-1600a集電極電壓vces:0.001~10v±0.5%±0.001v柵極電壓vge:5~40v±1%±0.01v集電極電流ice:0~100a±1%±1a;100~1600a±2%±2a,;*3.9iges柵極漏電流0.01~10μa柵極漏電流iges:0.01~10μa±2%±0.005μa柵極電壓vge:±1v~40v±1%±0.1v,;vce=0v;*3.10vf正向特性測試0.1~5v二極管導通電壓vf:0.1~5v±1%±0.01v電流if:0~100a±2%±1a,;100~1600a±1.5%±2a,;
什么是大功率半導體元件,?其用途為何,?
凡是半導體元件如金屬氧化場效晶體管(mosfet)、igbt(insulated gate b.transistor)及triac可控硅,、scr晶閘管,、 gto等各型閘流體與二極管(di ode)等,檢修用igbt測試儀加工,,其工作電流與電壓乘積若大于1kw以上,,檢修用igbt測試儀,均可屬于大功率的范圍。將量測的數(shù)據(jù)與其出廠規(guī)格相比較,,就可判定元件的好壞或退化的百分比,。如下圖片所示。此類元件多用于車船,,工廠的動力,,光電及其他能源的轉換上。
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