大功率半導(dǎo)體器件為何有老化的問(wèn)題？
任何產(chǎn)品都有設(shè)計(jì)使用壽命,，同一種產(chǎn)品不同的使用環(huán)境和是否得到相應(yīng)的維護(hù),，延長(zhǎng)產(chǎn)品使用壽命和設(shè)備---運(yùn)行具有---重要。功率元件由于經(jīng)常有大電流往復(fù)的沖擊,，大功率igbt測(cè)試儀加工,，對(duì)半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)均具有一定的耗損性及破壞性，若其工作狀況又經(jīng)常在其安全工作區(qū)的邊緣,，更會(huì)加速元件的老化程度,，故元件老化，大功率igbt測(cè)試儀廠(chǎng)家,，就如人的老化一樣是不可避免的問(wèn)題,。包裝與運(yùn)輸由專(zhuān)人負(fù)責(zé)，每個(gè)部分隨機(jī)文件包括發(fā)貨清單,、出廠(chǎng)合格證,、試驗(yàn)報(bào)告和主要器件說(shuō)明書(shū)等。
參數(shù)名稱(chēng)符號(hào)參數(shù)名稱(chēng)符號(hào)
開(kāi)通---時(shí)間td(on)關(guān)斷---時(shí)間td(off)
上升時(shí)間tr下降時(shí)間tf
開(kāi)通時(shí)間ton關(guān)斷時(shí)間toff
開(kāi)通損耗eon關(guān)斷損耗eoff
柵極電荷qg
短路電流isc//
可測(cè)量的frd動(dòng)態(tài)參數(shù)
參數(shù)名稱(chēng)符號(hào)參數(shù)名稱(chēng)符號(hào)
反向恢復(fù)電流irm反向恢復(fù)電荷qrr
反向恢復(fù)時(shí)間trr反向恢復(fù)損耗erec
產(chǎn)品主要有電力半導(dǎo)體器件,、組件,、模塊包括igbt器件、新型sic器件,、功率晶閘管及功率整流管等的檢測(cè)及---性設(shè)備,，大功率igbt測(cè)試儀，電氣自動(dòng)化設(shè)備,，電冶,、電化學(xué)裝置，電力半導(dǎo)體變流裝置及各種高,、中,、低頻感應(yīng)加熱電源、感應(yīng)加熱爐,，晶閘管高壓閥組,、gto、igbt,、igct,、mosfet驅(qū)動(dòng)器、遠(yuǎn)距離光電轉(zhuǎn)換軟件控制系統(tǒng),、光電脈沖觸發(fā)板,、igbt的智能高壓驅(qū)動(dòng)板等,。西門(mén)子plc邏輯控制15數(shù)據(jù)采集與處理單元用于數(shù)據(jù)采集及數(shù)據(jù)處理，主要技術(shù)參數(shù)要求如下：,。
|
登錄后臺(tái)
滇公網(wǎng)安備 53011202000392